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Dado oficial do INPI

MÉTODO E SISTEMA QUE INCORPORAM OS ELEMENTOS ÓPTICOS DE MODELAGEM DO FEIXE E A ESTABILIZAÇÃO DO FEIXE

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · US2018042835 Documento oficial disponível

Dados do pedido

Número

112020000896

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

19/07/2018

Publicação

21/07/2020

PCT

US2018042835

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

Acessar documento

Andamento no INPI

  1. Depósito19/07/18
  2. Publicação21/07/20
  3. Exame
  4. Deferimento01/10/24
  5. Concessão24/12/24
  6. Em vigor19/07/38

Patente concedida em 24/12/2024 e em vigor até 19/07/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:19/07/2038

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Última movimentação publicada pelo INPI: 24/12/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

INGURAN, LLC

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

K. E. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

62/534,508 · 19/07/2017

Resumo técnico

Esta divulgação refere-se a instrumentos analíticos e métodos relacionados que incorporam elementos ópticos de modelagem do feixe para diferenciar sinais muito brilhantes e diretamente relacionados a uma ampla gama de condições operacionais com um desempenho aprimorado e uniforme.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 19/07/2018, observadas as condições legais

24/12/2024

RPI 2816

Deferimento

#9.1

01/10/2024

RPI 2804

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

23/07/2024

RPI 2794

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

26/03/2024

RPI 2777

Parecer de pré-exame

#6.23

25/07/2023

RPI 2742

Adição na publicação

#15.35

03/11/2021

RPI 2652

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

21/07/2020

RPI 2585

Alteração de dados cadastrais

#1.1

28/01/2020

RPI 2560

Monitoramento de patentes

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