Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
19/10/2021
RPI 2650
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Dado oficial do INPI
SISTEMAS E MÉTODOS DE INSPEÇÃO DE TOMOGRAFIA DE RAIOS X
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2018027872
Dados do pedido
Número
112019021805Tipo
Patente de Invenção
Depósito
17/04/2018
Publicação
05/05/2020
PCT
US2018027872 Andamento no INPI
- Depósito17/04/18
- Publicação05/05/20
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 17/04/2018, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 19/10/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
RAPISCAN SYSTEMS, INC.
US
Inventores
E. M. (pessoa física)
GB
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
62/486,130 · 17/04/2017
Resumo técnico
É fornecido um sistema de inspeção de raios X para a varredura de itens. O sistema inclui: uma fonte de raios X estacionária estendendo ao redor de um volume de varredura retangular, e definindo múltiplos pontos de fonte a partir dos quais os raios X podem ser direcionados através do volume de varredura; uma matriz de detectores de raios X também estendendo ao redor do volume de varredura retangular e disposta para detectar raios X a partir dos pontos de fonte que passaram pelo volume de varredura; um transportador disposto para transportar os itens através do volume de varredura; e pelo menos um processador para processar os raios X detectados para produzir imagens de varredura dos itens.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Adição na publicação
#15.35
19/10/2021
RPI 2650
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
03/08/2021
RPI 2639
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
05/05/2020
RPI 2574
Alteração de dados cadastrais
#1.1
29/10/2019
RPI 2547
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