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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA INVESTIGAÇÃO ONTOLÓGICA NÃO SUPERVISIONADA AUTOMATIZADA DE APARÊNCIAS ESTRUTURAIS EM MICROGRAFIAS ELETRÔNICAS

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · US2018040625

Dados do pedido

Número

112019007917

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

02/07/2018

Publicação

11/02/2020

PCT

US2018040625

Andamento no INPI

  1. Depósito02/07/18
  2. Publicação11/02/20
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/08/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

INTELLIGENT VIRUS IMAGING INC.

US

Inventores

M. R. (pessoa física)

SE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

62/535,851 · 22/07/2017

Resumo técnico

Método para dividir objetos escuros (102, 122, 123, 126), subestruturas e fundo de uma imagem de um microscópio eletrônico (304) em segmentos (128, 142, 150) analisando-se os valores de pixel. Os segmentos são transformados e alinhados de modo que os objetos, as subestruturas e o fundo transformados sejam significativamente comparáveis. Os segmentos transformados (128', 142', 150') são agrupados em classes que são usadas para a investigação ontológica de amostras que são visualizadas utilizando-se microscopia eletrônica. Uma comparação de desigualdade triangular pode ser usada para agrupar adicionalmente grupos de objetos para transferir a compreensão de diferentes interações entre objetos e para associar as interações entre si.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2781 de 24/04/2024.

13/08/2024

RPI 2797

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 6ª anuidade.

24/04/2024

RPI 2781

Republicação - classificação IPC

#15.11

As Classificações Anteriores eram: G06K 9/62 , G02B 21/10

26/03/2024

RPI 2777

Parecer de pré-exame

#6.23

26/03/2024

RPI 2777

Adição na publicação

#15.35

13/10/2021

RPI 2649

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

11/02/2020

RPI 2562

Alteração de dados cadastrais

#1.1

30/04/2019

RPI 2521

Monitoramento de patentes

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