Adição na publicação
#15.35
08/09/2021
RPI 2644
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Dado oficial do INPI
MÉTODO E SISTEMA PARA IDENTIFICAR E MEDIR UM DEFEITO QUE REDUZ A TRANSPARÊNCIA EM UM SUBSTRATO PARA UM DOCUMENTO DE SEGURANÇA
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · AU2017050392
Dados do pedido
Número
112018070502Tipo
Patente de Invenção
Depósito
28/04/2017
Publicação
29/01/2019
PCT
AU2017050392 Andamento no INPI
- Depósito28/04/17
- Publicação29/01/19
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 28/04/2017, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/09/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
CCL SECURE PTY LTD
AU
Inventores
B. S. (pessoa física)
AU
D. P. (pessoa física)
AU
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AU
2016100492 · 29/04/2016
Resumo técnico
A presente invenção se refere a um método para medir um nível de defeito de uma região de um substrato para um documento de segurança, em que o nível de defeito está associado à transparência reduzida da região do substrato, o método incluindo as etapas de: gerar digitalmente a região para criar uma imagem digital, a imagem digital contendo dados de intensidade de luz; e analisar a imagem digital incluindo: o cálculo de uma medida estatística dos dados de intensidade de luz na região; e atribuir uma pontuação de defeito à região com base na medida estatística dos dados de intensidade de luz na região.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
10/11/2020
RPI 2601
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
28/07/2020
RPI 2586
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
29/01/2019
RPI 2508
Alteração de dados cadastrais
#1.1
16/10/2018
RPI 2493
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