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Dado oficial do INPI

SISTEMA PARA MEDIR AS CARACTERÍSTICAS ÓPTICAS DE UMA PLACA DE VIDRO CURVADA E MÉTODO PARA MEDIR AS CARACTERÍSTICAS ÓPTICAS DE UMA PLACA DE VIDRO CURVADA

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · US2016032837

Dados do pedido

Número

112017028018

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

17/05/2016

Publicação

28/08/2018

PCT

US2016032837

Andamento no INPI

  1. Depósito17/05/16
  2. Publicação28/08/18
  3. Exame
  4. Deferimento09/02/21
  5. Concessão13/04/21
  6. Em vigor17/05/36

Patente concedida em 13/04/2021 e em vigor até 17/05/2036. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:17/05/2036

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/04/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

GLASSTECH, INC.

US

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Inventores

B. M. (pessoa física)

US

J. A. (pessoa física)

US

M. V. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

14/752,033 · 26/06/2015

Resumo técnico

Um sistema para medir distorção óptica numa placa de vidro contornada inclui um transportador para transportar a placa de vidro numa primeira direção, pelo menos uma tela que projeta um padrão de contraste multifásico não repetido pré-selecionado e, pelo menos, uma câmera, cada uma das câmeras emparelhadas unicamente com uma das telas. O sistema também pode incluir um controle programado para executar lógica para controlar cada uma das câmeras para adquirir as imagens pretendidas e lógica para analisar e combinar os dados adquiridos pelas câmeras para construir uma definição da superfície da placa de vidro e lógica para realizar uma ou mais operações de processamento óptico nos dados de superfície para analisar as características ópticas da placa de vidro.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 17/05/2016, observadas as condições legais

13/04/2021

RPI 2623

Deferimento

#9.1

09/02/2021

RPI 2614

Exigência preliminar

#6.21

16/06/2020

RPI 2580

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/08/2018

RPI 2486

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/04/2018

RPI 2465

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