Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/05/2016, observadas as condições legais
07/02/2023
RPI 2718
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Dado oficial do INPI
DISPOSITIVO DE TESTE PARA TESTAR UM EXEMPLAR DE TESTE, SISTEMA E MÉTODO PARA CONTROLAR UM DISPOSITIVO DE TESTE
ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2016061401
Dados do pedido
Número
112017016145Tipo
Patente de Invenção
Depósito
20/05/2016
Publicação
17/04/2018
PCT
EP2016061401 Andamento no INPI
- Depósito20/05/16
- Publicação17/04/18
- Exame
- Deferimento06/12/22
- Concessão07/02/23
- Em vigor20/05/36
Patente concedida em 07/02/2023 e em vigor até 20/05/2036. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:20/05/2036
Última movimentação publicada pelo INPI: 07/02/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventores
D. F. (pessoa física)
AT
R. K. (pessoa física)
AT
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AT
A50503/2015 · 17/06/2015
Resumo técnico
A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste e método para operar um dispositivo de teste. Um dispositivo de teste (10) está configurado para testar um exemplar de teste (70) o qual possui um indutor (71). O dispositivo de teste (10) inclui uma unidade controlável (35) para reduzir a intensidade de corrente de uma corrente que flui no indutor (33).
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Deferimento
#9.1
06/12/2022
RPI 2709
Conhecimento de parecer técnico
#7.1
06/09/2022
RPI 2696
Exigência preliminar
#6.21
21/07/2020
RPI 2585
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
17/04/2018
RPI 2467
Alteração de dados cadastrais
#1.1
08/08/2017
RPI 2431
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