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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE TESTE DE TRANSFORMADOR, SISTEMA E MÉTODO PARA O TESTE DE UM TRANSFORMADOR

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2015080496

Dados do pedido

Número

112017014921

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

18/12/2015

Publicação

20/03/2018

PCT

EP2015080496

Andamento no INPI

  1. Depósito18/12/15
  2. Publicação20/03/18
  3. Exame
  4. Deferimento09/08/22
  5. Concessão04/10/22
  6. Em vigor18/12/35

Patente concedida em 04/10/2022 e em vigor até 18/12/2035. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:18/12/2035

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Depositantes e inventores

Depositantes

OMICRON ELECTRONICS GMBH

AT

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Inventores

D. F. (pessoa física)

AT

M. (. (pessoa física)

AT

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

AT

A50022/2015 · 13/01/2015

Resumo técnico

A invenção se refere a um dispositivo de teste de transformador (10), que compreende saídas (31 - 33) para a ligação removível do dispositivo de teste de transformador com enrolamentos de várias fases de um transformador (50). O dispositivo de teste de transformador (10) compreende várias fontes (21 - 23), sendo que, cada fonte (21 - 23) das várias fontes (21 - 23) está equipada respectivamente para a geração de um sinal de teste. O dispositivo de teste de transformador (10) compreende uma matriz de ligação (40) que está conectada entre as várias fontes (21 - 23) e as saídas (31 - 33).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 18/12/2015, observadas as condições legais

04/10/2022

RPI 2700

Deferimento

#9.1

09/08/2022

RPI 2692

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

26/04/2022

RPI 2677

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

18/01/2022

RPI 2663

Exigência preliminar

#6.21

23/06/2020

RPI 2581

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

20/03/2018

RPI 2463

Alteração de dados cadastrais

#1.1

19/09/2017

RPI 2437

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