Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 29/09/2015, observadas as condições legais
10/01/2023
RPI 2714
Dados do pedido
Número
112017006767Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2015072438 Patente concedida em 10/01/2023 e em vigor até 29/09/2035. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:29/09/2035
Última movimentação publicada pelo INPI: 10/01/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventores
M. J. (pessoa física)
AT
R. K. (pessoa física)
AT
S. G. (pessoa física)
AT
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AT
A50716/2014 · 07/10/2014
Resumo técnico
A presente invenção refere-se a uma disposição de teste, que está prevista a fim de poder testar de forma simples sistemas de comutação de diversos fabricantes e tipos, de tal modo que uma unidade de controle (6) para um dispositivo de comutação (5) do sistema de comutação (4) está ligada com um aparelho de teste (10) através de um cabo de adaptação (11), o qual recria o dispositivo de comutação (5) para o teste, e o aparelho de teste (10) lê dados específicos da configuração de uma unidade de memória (15) no cabo de adaptação (11), e o aparelho de teste (10) com isso configura suas entradas de sinal (BE) e saídas de sinal (BA, AA), necessárias para a realização do teste.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 29/09/2015, observadas as condições legais
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