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Dado oficial do INPI

PROCESSO DE CONTROLE PARA IMPRESSÃO POR ENTALHE, TIRA DE CONTROLE, USO DA TIRA DE CONTROLE, PLACA GRAVADA PARA IMPRESSÃO POR ENTALHE, ARQUIVO DE ORIGEM DIGITAL DESTINADO À PRODUÇÃO DE UMA PLACA DE IMPRESSÃO POR ENTALHE, E SUBSTRATO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · IB2013061170

Dados do pedido

Número

112015014589

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

20/12/2013

Publicação

11/07/2017

PCT

IB2013061170

Andamento no INPI

  1. Depósito20/12/13
  2. Publicação11/07/17
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 04/02/2020. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

KBA-NOTASYS SA

CH

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Inventores

D. C. (pessoa física)

CH

D. V. (pessoa física)

CH

R. H. (pessoa física)

CH

Dados técnicos

Prioridades unionistas

EP

12198762.2 · 20/12/2012

Resumo técnico

RESUMO PROCESSO DE CONTROLE PARA IMPRESSÃO POR ENTALHE, TIRA DE CONTROLE, USO DA TIRA DE CONTROLE, PLACA GRAVADA PARA IMPRESSÃO POR ENTALHE, ARQUIVO DE ORIGEM DIGITAL DESTINADO À PRODUÇÃO DE UMA PLACA DE IMPRESSÃO POR ENTALHE, E SUBSTRATO É especialmente descrito um processo de controle para impressão por entalhe, em particular, para impressão de títulos em papel, tais como notas de banco. Esse processo de controle inclui definir em uma placa de impressão por entalhe (80) áreas de controle (150, 151 a 155; 170, 171 a 179) projetadas de uma maneira que permita, em particular, a avaliação de efeitos da pressão de impressão aplicada durante a impressão de um substrato por meio da placa de impressão por entalhe (80), e a avaliação de efeitos da cobertura de tinta aplicada durante a entintagem da placa de impressão por entalhe (80), cujas áreas de controle (150, 151 a 155; 170, 171 a 179) são gravadas em uma porção da placa de impressão por entalhe (80) a fim de produzir zonas de controle de impressão (160, 161-165) correspondentes no substrato. O processo inclui, adicionalmente, realizar medições nas zonas de controle de impressão que permitam a avaliação da pressão de impressão aplicada durante a impressão do substrato bem como da cobertura de tinta aplicada durante a entintagem da placa de impressão por entalhe (80).1/1

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2545 de 15-10-2019 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

04/02/2020

RPI 2561

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 6ª anuidade.

15/10/2019

RPI 2545

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

11/07/2017

RPI 2427

Alteração de dados cadastrais

#1.1

30/06/2015

RPI 2321

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