Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 11/10/2013, observadas as condições legais
19/05/2020
RPI 2576
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Dado oficial do INPI
CIRCUITO INTEGRADO, APARELHO SENSÍVEL, E, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE UM ANALITO DE INTERESSE EM UM MEIO
ConcedidaPatente de InvençãoPCT · IB2013059296
Dados do pedido
Número
112015008211Tipo
Patente de Invenção
Depósito
11/10/2013
Publicação
04/07/2017
PCT
IB2013059296 Andamento no INPI
- Depósito11/10/13
- Publicação04/07/17
- Exame
- Deferimento17/03/20
- Concessão19/05/20
- Em vigor11/10/33
Patente concedida em 19/05/2020 e em vigor até 11/10/2033. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:11/10/2033
Última movimentação publicada pelo INPI: 19/05/2020. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
NL
Inventores
B. M. (pessoa física)
NL
J. K. (pessoa física)
NL
M. M. (pessoa física)
NL
P. G. (pessoa física)
NL
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
61/714,400 · 16/10/2012
Resumo técnico
RESUMO CIRCUITO INTEGRADO, APARELHO SENSÍVEL, E, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE UM ANALITO DE INTERESSE EM UM MEIO Revela-se um circuito integrado (100) compreendendo um substrato semicondutor (110); uma camada de isolamento (120) sobre o dito substrato; um primeiro transistor (140a) sobre a dita camada de isolamento, o primeiro transistor compreendendo uma região de canal funcionalizado exposta (146a) entre uma região de origem (142a) e uma região de drenagem (144) para percepção de um analito em um meio; um segundo transistor (140b) sobre a dita camada de isolamento, o segundo transistor compreendendo uma região de canal exposta (146b) entre uma região de origem (142b) e uma região de drenagem (144) para percepção de um potencial do dito meio; e um gerador de influência de tensão (150) acoplado de maneira condutora ao substrato semicondutor para prover uma tensão de influência aos ditos transistores, o dito gerador de influência de tensão sendo responsivo ao segundo transistor. Aparelho sensível compreendendo tal CI e um método de medição de analito utilizando tal CI também são revelados.1/1
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Deferimento
#9.1
17/03/2020
RPI 2567
Exigência preliminar
#6.21
05/11/2019
RPI 2548
Notificação de acesso ao patrimônio genético
#6.6.1
21/11/2018
RPI 2498
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.
04/07/2017
RPI 2426
Alteração de dados cadastrais
#1.1
28/04/2015
RPI 2312
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