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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO DE DISTRIBUIÇÃO DE POTENCIAL DE SUPERFÍCIE E MÉTODO DE MEDIÇÃO DE DISTRIBUIÇÃO DE POTENCIAL DE SUPERFÍCIE

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · JP2012007467

Dados do pedido

Número

112014012354

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

21/11/2012

Publicação

13/06/2017

PCT

JP2012007467

Andamento no INPI

  1. Depósito21/11/12
  2. Publicação13/06/17
  3. Exame
  4. Indeferido26/03/24
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido em 26/03/2024 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 26/03/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

T. T. (pessoa física)

JP

TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION

JP

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Inventores

A. K. (pessoa física)

JP

H. I. (pessoa física)

JP

K. H. (pessoa física)

JP

S. Y. (pessoa física)

JP

T. Y. (pessoa física)

JP

Y. T. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2011-258147 · 25/11/2011

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO DE DISTRIBUIÇÃO DE POTENCIAL DE SUPERFÍCIE E MÉTODO DE MEDIÇÃO DE DISTRIBUIÇÃO DE POTENCIAL DE SUPERFÍCIE. Em um dispositivo de medição de distribuição de potencial de superfície (1) para sistema de redução de campo elétrico (3) de uma máquina elétrica giratória, um cristal Pockels (25) é usado entre um laser (21) e a superfície (local de teste (L)) do sistema de redução de campo elétrico (3). Assim, a intensidade de luz de um feixe laser refletido em um espelho (24) fornecido entre o cristal Pockels (23) e o local de teste (L) corresponde a uma tensão de saída que é a diferença de tensão entre as primeira e segunda superfícies de extremidade do cristal Pockels. Mesmo quando uma tensão de inversor é gerada, usando-se detector de luz (25) tendo uma faixa de frequência capaz de seguir componentes de alta frequência da tensão de pulso do inversor, intensidade de luz é detectada pelo detector de luz. Portanto, da intensidade de luz (tensão de saída), o dispositivo de medição (1) pode medir o potencial de superfície do sistema de redução de campo elétrico (3) no qual uma tensão de pulso do inversor é gerada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

111

Recorrente: O depositante. @Despacho: Recurso conhecido e negado provimento. Mantido o indeferimento do pedido. [111]

26/03/2024

RPI 2777

Petição de recurso

#12.2

Recurso: 870210088424 - 24/09/2021

05/10/2021

RPI 2648

Indeferimento

#9.2

03/08/2021

RPI 2639

Adição na publicação

#15.35

01/06/2021

RPI 2630

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

09/03/2021

RPI 2618

Exigência preliminar

#6.21

22/10/2019

RPI 2546

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Retificação da notificação da fase nacional - PCT

#1.3.1

Retificação do despacho 1.3 publicado na RPI nº 2423 para inclusão da informação que tal despacho referiu-se a publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

20/06/2017

RPI 2424

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

13/06/2017

RPI 2423

Alteração de dados cadastrais

#1.1

19/08/2014

RPI 2276

Monitoramento de patentes

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