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Dado oficial do INPI

CARTUCHO PARA O TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA, APARELHO SENSOR PARA O TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA, E MÉTODO DE TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · IB2012055973

Dados do pedido

Número

112014010235

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/10/2012

Publicação

18/04/2017

PCT

IB2012055973

Andamento no INPI

  1. Depósito29/10/12
  2. Publicação18/04/17
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 26/12/2017. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

NL

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Inventores

J. N. (pessoa física)

NL

W. D. (pessoa física)

NL

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

61/555,025 · 03/11/2011

Resumo técnico

RESUMO CARTUCHO PARA O TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA, APARELHO SENSOR PARA O TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA, E MÉTODO DE TESTE ÓPTICO DE UMA AMOSTRA A presente invenção refere-se a um cartucho (400), um dispositivo sensor e um método de teste óptico de uma amostra. Um primeiro feixe de luz emitido que se origina de uma reflexão interna total em uma superfície de detecção de uma câmara de TIR e um segundo feixe de luz emitido (L2') que vem do interior de uma câmara inspecionável (420) são ambos recebidos dentro de uma região de observação (OR). Preferencialmente, esses feixes de luz emitidos são detectados com o mesmo detector de luz, por exemplo, um sensor de imagem. A presente invenção permite com isso a observação de reflexão interna total na câmara de TIR e a observação no interior da câmara inspecionável (420) a partir da mesma região de observação (OR). Isso é, por exemplo, permitido por diferentes inclinações das janelas encontradas pelo primeiro e pelo segundo feixe de luz emitido, por diferentes elementos ópticos (407) nos trajetos dos feixes de luz emitidos e/ou por estruturas de superfície de dispersão de luz na câmara inspecionável.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2435 de 05-09-2017 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

26/12/2017

RPI 2451

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 5ª anuidade.

05/09/2017

RPI 2435

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

18/04/2017

RPI 2415

Alteração de dados cadastrais

#1.1

19/08/2014

RPI 2276

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