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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO DE FORMA, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE FORMA, E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE PLACA DE VIDRO

ExtintaPatente de InvençãoPCT · JP2011063712

Dados do pedido

Número

112012031749

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/06/2011

Publicação

01/11/2016

PCT

JP2011063712

Andamento no INPI

  1. Depósito15/06/11
  2. Publicação01/11/16
  3. Exame
  4. Deferimento17/12/19
  5. Concessão18/02/20
  6. Extinto01/08/23

Patente concedida em 18/02/2020 e depois extinta em 01/08/2023. A proteção terminou antes do prazo e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 01/08/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

AGC INC.

JP

ASAHI GLASS COMPANY LIMITED

JP

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Inventores

K. O. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2010-136510 · 15/06/2010

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO DE FORMA, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE FORMA, E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE PLACA DE VIDRO. A presente invenção refere-se a uma construção simplesé possibilitada para a obtenção de uma medição precisa da forma da superfície de uma placa transparente. Um aparelho para a medição de forma que inclui: uma seção de captura de imagem (2) que está disposto de tal modo que um eixo geométrico óptico se torne perpendicular em uma direção de extensão de um padrão linear X disposto acima de uma placa plana transparente (3) que serve como um objeto de medição e que captura uma imagem dos dois grupos com local de reflexo do padrão X refletido em uma primeira superfície MI e uma superfície traseira M2 da placa plana transparente (3) e gera uma imagem que contém duas imagens de reflexo separadas em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão; uma seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície que estima a partir da imagem de um grupo do local de reflexo da primeira superfície A do padrão X gerado pela primeira superfície MI da placa plana transparente (3) usando-se uma relação posicional da placa plana transparente (3), do padrão X, e da seção de captura de imagem (2); uma seção de cálculo do ângulo de inclinação que calcula um ângulo de inclinação da primeira superfície MI da placa plana transparente (3) em uma posição estimada do grupo do local de reflexo da primeira superfície A usando-se a relação posicional da placa plana transparente (3), do poadrão X, e da seção de captura de imagem (2), e uma seção de determinação da forma da superfície que determina uma forma da primeira superfície MI da placa plana transparente (3) com base na inclinação calculada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Manutenção da Extinção - Art. 78 inciso IV da LPI

#24.10

Em virtude da extinção publicada na RPI 2727 de 11-04-2023 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantida a extinção da patente e seus certificados, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

01/08/2023

RPI 2743

Extinção para fins de restauração (art. 87)

#21.6

Referente à 12ª anuidade.

11/04/2023

RPI 2727

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 15/06/2011, observadas as condições legais

18/02/2020

RPI 2563

Deferimento

#9.1

17/12/2019

RPI 2554

Exigência preliminar

#6.21

10/09/2019

RPI 2540

Alteração de nome deferida

#25.4

19/03/2019

RPI 2515

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

12/03/2019

RPI 2514

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/11/2016

RPI 2391

Alteração de dados cadastrais

#1.1

31/12/2013

RPI 2243

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