Publicação do pedido de patente
#3.1
06/03/2025
RPI 2826
Dados do pedido
Número
102023017065Tipo
Depósito
Publicação
O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 24/08/2026, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).
Prazo para requerer o exame:24/08/2026(termina hoje)
Última movimentação publicada pelo INPI: 06/03/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
COMISSÃO NACIONAL DE ENERGIA NUCLEAR (CNEN)
MG, BR
U. G. (pessoa física)
MG, BR
Inventores
C. H. (pessoa física)
BR
D. R. (pessoa física)
BR
E. A. (pessoa física)
BR
J. C. (pessoa física)
BR
L. C. (pessoa física)
BR
O. N. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
DISPOSITIVO E PROCESSO PARA DETERMINAR A EFICIÊNCIA QUÂNTICA DO SINAL DE FLUORESCÊNCIA, A CONCENTRAÇÃO DE ÁREA SUPERFICIAL E A ÁREA SUPERFICIAL ESPECÍFICA DE NANOFLOCOS DE GRAFENO DISPERSOS EM SOLUÇÃO. Esta tecnologia é baseada no fenômeno de extinção da fluorescência e refere-se a um processo e um dispositivo capazes de determinar a eficiência quântica do sinal de fluorescência, a concentração de área superficial e a área superficial específica de nanoflocos de grafeno dispersos em solução. A tecnologia permite utilizar regiões específicas selecionadas no espectro eletromagnético em que são realizadas medidas de intensidade luminosa após aplicação de filtros passa-faixa e uso de detectores que interagem com as demais partes de um sistema que inclui também um diodo emissor de luz, uma esfera integradora, placas difusoras de luz etc. As vantagens da tecnologia são: 1) permite utilizar regiões específicas do espectro eletromagnético por meio de um aparato e um processo baseados em espectroscopia óptica e especialmente concebidos para analisar características de superfície do material grafênico disperso em solução; 2) a tecnologia é simples, pois utiliza uma fonte luminosa de comprimento de onda fixo e realiza medições em regiões específicas do espectro eletromagnético, configurando uma solução mais econômica e robusta do que os dispositivos superdimensionados formados por espectrômetros óticos. A tecnologia aplica-se à produção de material grafênico, para o controle e determinação das características de superfície do material grafênico produzido.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#3.1
06/03/2025
RPI 2826
#2.1
10/10/2023
RPI 2753
#2.10
Número de Protocolo '870230075021' em 24/08/2023 13:37 (WB)
05/09/2023
RPI 2748
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.