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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO E PROCESSO PARA DETERMINAR A EFICIÊNCIA QUÂNTICA DO SINAL DE FLUORESCÊNCIA, A CONCENTRAÇÃO DE ÁREA SUPERFICIAL E A ÁREA SUPERFICIAL ESPECÍFICA DE NANOFLOCOS DE GRAFENO DISPERSOS EM SOLUÇÃO

PublicadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção DISPOSITIVO E PROCESSO PARA DETERMINAR A EFICIÊNCIA QUÂNTICA DO SINAL DE FLUORESCÊNCIA, A CONCENTRAÇÃO DE ÁREA SUPERFICIAL E A ÁREA SUPERFICIAL ESPECÍFICA DE NANOFLOCOS DE GRAFENO DISPERSOS EM SOLUÇÃO de COMISSÃO NACIONAL DE ENERGIA NUCLEAR (CNEN) — IPC B82Y 30/00
Patente de Invenção DISPOSITIVO E PROCESSO PARA DETERMINAR A EFICIÊNCIA QUÂNTICA DO SINAL DE FLUORESCÊNCIA, A CONCENTRAÇÃO DE ÁREA SUPERFICIAL E A ÁREA SUPERFICIAL ESPECÍFICA DE NANOFLOCOS DE GRAFENO DISPERSOS EM SOLUÇÃO de COMISSÃO NACIONAL DE ENERGIA NUCLEAR (CNEN) — IPC B82Y 30/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102023017065

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/08/2023

Publicação

06/03/2025

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito24/08/23
  2. Publicação06/03/25
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 24/08/2026, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:24/08/2026(termina hoje)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/03/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

COMISSÃO NACIONAL DE ENERGIA NUCLEAR (CNEN)

MG, BR

U. G. (pessoa física)

MG, BR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

C. H. (pessoa física)

BR

D. R. (pessoa física)

BR

E. A. (pessoa física)

BR

J. C. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

O. N. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

DISPOSITIVO E PROCESSO PARA DETERMINAR A EFICIÊNCIA QUÂNTICA DO SINAL DE FLUORESCÊNCIA, A CONCENTRAÇÃO DE ÁREA SUPERFICIAL E A ÁREA SUPERFICIAL ESPECÍFICA DE NANOFLOCOS DE GRAFENO DISPERSOS EM SOLUÇÃO. Esta tecnologia é baseada no fenômeno de extinção da fluorescência e refere-se a um processo e um dispositivo capazes de determinar a eficiência quântica do sinal de fluorescência, a concentração de área superficial e a área superficial específica de nanoflocos de grafeno dispersos em solução. A tecnologia permite utilizar regiões específicas selecionadas no espectro eletromagnético em que são realizadas medidas de intensidade luminosa após aplicação de filtros passa-faixa e uso de detectores que interagem com as demais partes de um sistema que inclui também um diodo emissor de luz, uma esfera integradora, placas difusoras de luz etc. As vantagens da tecnologia são: 1) permite utilizar regiões específicas do espectro eletromagnético por meio de um aparato e um processo baseados em espectroscopia óptica e especialmente concebidos para analisar características de superfície do material grafênico disperso em solução; 2) a tecnologia é simples, pois utiliza uma fonte luminosa de comprimento de onda fixo e realiza medições em regiões específicas do espectro eletromagnético, configurando uma solução mais econômica e robusta do que os dispositivos superdimensionados formados por espectrômetros óticos. A tecnologia aplica-se à produção de material grafênico, para o controle e determinação das características de superfície do material grafênico produzido.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

06/03/2025

RPI 2826

Pedido de patente depositado

#2.1

10/10/2023

RPI 2753

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870230075021' em 24/08/2023 13:37 (WB)

05/09/2023

RPI 2748

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