TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

EQUIPAMENTO E SISTEMA AUTOMÁTICO COM CONTROLE DE TEMPERATURA PARA CARACTERIZAÇÃO DE CÉLULAS SOLARES FOTOVOLTAICAS NÃO ENCAPSULADAS

PublicadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102022001877

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

01/02/2022

Publicação

08/08/2023

Depositantes e inventores

Depositantes

COPEL DISTRIBUIÇÃO S/A

PR, BR

Inventores

A. J. (pessoa física)

BR

A. S. (pessoa física)

BR

A. B. (pessoa física)

BR

A. N. (pessoa física)

BR

C. P. (pessoa física)

BR

C. T. (pessoa física)

BR

E. S. (pessoa física)

BR

G. S. (pessoa física)

BR

J. R. (pessoa física)

BR

L. M. (pessoa física)

BR

M. B. (pessoa física)

BR

N. A. (pessoa física)

BR

R. M. (pessoa física)

BR

V. Z. (pessoa física)

BR

W. W. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

EQUIPAMENTO E SISTEMA AUTOMÁTICO COM CONTROLE DE TEMPERATURA PARA CARACTERIZAÇÃO DE CÉLULAS SOLARES FOTOVOLTAICAS NÃO ENCAPSULADAS. O presente pedido de patente de invenção refere-se a um equipamento e sistema para avaliação da eficiência de células solares fotovoltaicas (não encapsuladas) de pequeno porte (5cm x 5cm) em laboratório, tendo como fonte luminosa a utilização de um simulador solar. A curva IxV de uma célula fotovoltaica pode ser obtida de forma manual, variando-se a resistência de carga e registrando-se os níveis de tensão e corrente desde a condição de circuito aberto até a condição de curto-circuito. No entanto, por levar um tempo considerável para conclusão, o processo manual está sujeito tanto a erros humanos de operação no ato das leituras e dos ajustes manuais, quanto a erros devido as possíveis variações ambientais, tais como variação da irradiação, temperatura, entre outros. Portanto, é crucial a rapidez na obtenção dos dados para plotagem da curva IxV. Com o objetivo de otimizar a obtenção das curvas IxV e PxV, e eliminar os fatores de erros, foi desenvolvido um equipamento com sistema automático utilizando microcontrolador, o qual faz o controle da resistência de carga e aquisição dos valores de tensão e corrente, plotando as curvas IxV e PxV em alguns segundos, conforme programado. Promove ainda, o controle da temperatura na célula em teste e apresenta os valores em display LCD.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

08/08/2023

RPI 2744

Pedido de patente depositado

#2.1

22/03/2022

RPI 2672

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870220008702' em 01/02/2022 10:25 (WB)

15/02/2022

RPI 2667

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.