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Dado oficial do INPI

MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA

PublicadaPatente de Invenção

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA de DEERE & COMPANY — IPC A01B 69/00
Patente de Invenção MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA de DEERE & COMPANY — IPC A01B 69/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

102021022835

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/11/2021

Publicação

02/08/2022

Andamento no INPI

  1. Depósito12/11/21
  2. Publicação02/08/22
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido publicado na RPI em 02/08/2022 e já visível a qualquer interessado. Segue para o exame técnico do INPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 02/08/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

DEERE & COMPANY

US

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Inventores

B. Y. (pessoa física)

US

D. B. (pessoa física)

US

G. A. (pessoa física)

US

M. W. (pessoa física)

US

N. K. (pessoa física)

US

N. V. (pessoa física)

US

N. A. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

17/248,378 · 22/01/2021

Resumo técnico

MÉTODO IMPLEMENTADO POR COMPUTADOR, E, APARELHO PARA CONTROLAR UMA PLATAFORMA DE CORTE AGRÍCOLA. Sistemas e métodos para controlar plataformas de corte agrícolas com base no movimento de cultivo com relação a uma porção da plataforma de corte agrícola são descritos. A presença ou o movimento de material de cultivo, tal como um material de cultivo representando grão (por exemplo, espigas, cabeças, ou vagens de cultivos (EHP)), com relação à plataforma de corte de colheitadeira ou a uma porção da plataforma de corte de colheitadeira, pode ser detectado, tal como por análise de dados de imagem representando uma ou mais imagens coletadas sobre o tempo. Com base em uma posição ou movimento ou ambos do material de cultivo com relação à plataforma de corte, um ou mais parâmetros da plataforma de corte de colheitadeira podem ser ajustados, por exemplo, para reduzir uma quantia de perda de grão.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

02/08/2022

RPI 2691

Pedido de patente depositado

#2.1

08/02/2022

RPI 2666

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870210104975' em 12/11/2021 14:58 (WB)

23/11/2021

RPI 2655

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