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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE DIAGNÓSTICO QUALITATIVO E QUANTITATIVO DE CÉLULAS FOTOVOLTAICAS DE SILÍCIO CRISTALINO

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102019025527

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

03/12/2019

Publicação

15/06/2021

Andamento no INPI

  1. Depósito03/12/19
  2. Publicação15/06/21
  3. Exame
  4. Deferimento07/01/25
  5. Concessão18/02/25
  6. Em vigor03/12/39

Patente concedida em 18/02/2025 e em vigor até 03/12/2039. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:03/12/2039

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Depositantes e inventores

Depositantes

INSTITUTO FEDERAL DE EDUCAÇÃO, CIÊNCIA E TECNOLOGIA DO RIO GRANDE DO NORTE

RN, BR

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Inventores

J. N. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

DISPOSITIVO E MÉTODO DE DIAGNÓSTICO QUALITATIVO E QUANTITATIVO DE CÉLULAS FOTOVOLTAICAS DE SILÍCIO CRISTALINO. Consiste em um dispositivo para detecção e classificação de defeitos em células fotovoltaicas de silício cristalino, tais como fissuras, microfissuras, corrosão dos materiais condutores, pontos de queimadura e demais falhas causadas pelo processo de envelhecimento, de fabricação e pós fabricação. Os testes nesse dispositivo são realizados por meio de exposição à fonte de luz contínua do tipo LED (1), focada na célula (15) por lente (2), considerando determinadas irradiância e espectros e submetendo-a à uma determinada temperatura. Os parâmetros de entrada como irradiância e temperatura podem ser passados pelo usuário do dispositivo por meio do painel de controle (21) ou do sistema supervisório (22). O dispositivo possui um classificador de defeitos (12) que sistematiza os testes por meio de um processo de detecção e classificação de defeitos que é realizado mediante análise dos parâmetros elétricos obtidos por meio da curva característica de corrente e tensão em conjunto com análise de imagens infravermelhas, obtida pela câmera térmica (18), e por imagens microscópicas, obtidas pela câmera (20), ou por meio de análise de parâmetros elétricos durante operação sob fonte de luz em regime permanente.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/12/2019, observadas as condições legais

18/02/2025

RPI 2824

Deferimento

#9.1

07/01/2025

RPI 2818

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

05/11/2024

RPI 2809

Publicação do pedido de patente

#3.1

15/06/2021

RPI 2632

Pedido de patente depositado

#2.1

12/05/2020

RPI 2575

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870190127223' em 03/12/2019 09:50 (WB)

10/12/2019

RPI 2553

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