Patente de Invenção MÉTODO E SISTEMA DE MEDIÇÃO DIGITAL DE SINAIS DE ALTA FREQUÊNCIA de INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO. — IPC G01R 1/28. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
A presente invenção se situa nos campos da Metrologia e Engenharia Elétrica e Eletrônica.A presente invenção descreve um método de sincronização, calibração ou medição digital de sinais alternados. De forma mais específica, a presente invenção revela um método de medição de sinal alternado de alta frequência usando sinais de baixa frequência, onde o sinal de alta frequência pode ser sincronizado em frequência e fase por meio do seu sinal homólogo de baixa frequência fundamental amostrado coerente ou sincronamente com N amostras por período e a banda-passante do digitalizador é conhecida.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Indeferimento
#9.2
20/12/2022
RPI 2711
Conhecimento de parecer técnico
#7.1
06/09/2022
RPI 2696
Exigência - art. 36 da LPI
#6.1
10/05/2022
RPI 2679
Publicação do pedido de patente
#3.1
05/09/2017
RPI 2435
Pedido de patente depositado
#2.1
03/05/2016
RPI 2365
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160006922 em 29/02/2016 02:26(WB).
