Publicação do pedido de patente
#3.1
18/03/2025
RPI 2828
Dados do pedido
Número
102023017750Tipo
Depósito
Publicação
O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 01/09/2026, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).
Prazo para requerer o exame:01/09/2026(faltam 8 dias)
Última movimentação publicada pelo INPI: 18/03/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO.
RJ, BR
Inventores
A. S. (pessoa física)
BR
C. P. (pessoa física)
BR
R. S. (pessoa física)
BR
Resumo técnico
MÉTODO, SISTEMA E MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO PARA ANÁLISE AUTOMATIZADA DE IMAGENS DE MEV. A invenção se refere a um método para análise morfométrica obtida por meio do imageamento de estruturas por microscopia eletrônica de varredura (MEV), em especial de partículas de resíduo de tiro (GSR), por meio de processamento de imagens, utilizando um algoritmo capaz de realizar a leitura do histograma da imagem e escolher o método de segmentação apropriado para realizar a medição de parâmetros pré-determinados.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#3.1
18/03/2025
RPI 2828
#2.1
31/10/2023
RPI 2756
#2.10
Número de Protocolo '870230077704' em 01/09/2023 09:57 (WB)
12/09/2023
RPI 2749
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