Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 07/05/2015, observadas as condições legais
04/05/2021
RPI 2626
Dados do pedido
Número
102015010352Tipo
Depósito
Publicação
Patente concedida em 04/05/2021 e em vigor até 07/05/2035. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:07/05/2035
Última movimentação publicada pelo INPI: 04/05/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO
RJ, BR
U. G. (pessoa física)
MG, BR
Inventores
A. V. (pessoa física)
BR
B. F. (pessoa física)
BR
B. A. (pessoa física)
BR
B. O. (pessoa física)
BR
C. A. (pessoa física)
BR
C. S. (pessoa física)
BR
D. R. (pessoa física)
BR
L. C. (pessoa física)
BR
T. V. (pessoa física)
BR
W. R. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
DISPOSITIVO METÁLICO PARA MISCROSCOPIA EESPECTROSCOPIA ÓPTICA DE CAMPO PRÓXIMO E MÉTODO DE FABRICAÇÃODO MESMOA presente invenção aborda um dispositivo metálico paramicroscopia e espectroscopia óptica de campo próximo, bem como um método depreparação do mesmo. Referido dispositivo compreende um corpo único (1) comprolongamento longitudinal (2), ápice nanométrico (4) e que possui pelo menos umdesbaste (3) em sua superfície, sendo aplicado como uma sonda de alta eficiênciaóptica, com dimensões adequadas e detalhes que possibilitam o melhor acoplamentofóton-plasmon, possibilitando a análise com alta resolução espacial de estruturas dedimensões nanométricas com alta eficiência e reprodutibilidade.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 07/05/2015, observadas as condições legais
04/05/2021
RPI 2626
#9.1
30/03/2021
RPI 2621
#6.21
26/05/2020
RPI 2577
#6.6.1
30/10/2018
RPI 2495
#3.1
08/11/2016
RPI 2392
#2.1
14/06/2016
RPI 2371
#2.5
04/08/2015
RPI 2326
#2.10
Número de Protocolo 860150085114 em 07/05/2015 10:12(WB).
19/05/2015
RPI 2315
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