Patente de Invenção DISPOSITIVO METÁLICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA POR SONDA E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO MESMO de INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO — IPC G01Q 60/22. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
Patente concedida em 28/12/2021 e em vigor até 12/12/2036. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:12/12/2036
Última movimentação publicada pelo INPI: 28/12/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO
DISPOSITIVO METÁLICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURAPOR SONDA E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO MESMOA presente invenção refere-se a um dispositivo para aplicações emmicroscopia por varredura por sonda e um método de fabricação domesmo. Referido dispositivo metálico compreende um corpo único (1)disposto em duas porções (2) e (3), sendo que a segunda porção (3)apresenta uma ponta submicrométrica (4) que define um ápice nanométrico(7). A presente invenção também fornece um método de fabricação de umasonda de alta eficiência óptica para microscopia por varredura por sonda.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 12/12/2016, observadas as condições legais
28/12/2021
RPI 2660
Deferimento
#9.1
13/10/2021
RPI 2649
Exigência - art. 36 da LPI
#6.1
11/05/2021
RPI 2627
Exigência preliminar
#6.21
11/08/2020
RPI 2588
Publicação do pedido de patente
#3.1
17/07/2018
RPI 2480
Pedido de patente depositado
#2.1
22/08/2017
RPI 2433
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160074760 em 12/12/2016 05:21(WB).
