(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO MACIÇO COM EXTREMIDADE UNIDIMENSIONAL PARA MICROSCOPIA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA DE CAMPO PRÓXIMO

Concessão AnuladaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

102012033304

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

27/12/2012

Publicação

26/08/2014

Andamento no INPI

  1. Depósito27/12/12
  2. Publicação26/08/14
  3. Exame
  4. Deferimento25/05/21
  5. Concessão22/06/21
  6. Em vigor27/12/32

Patente concedida em 22/06/2021 e em vigor até 27/12/2032. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:27/12/2032

Deixe seu contato e avisamos você

Acompanhamos as publicações do INPI e avisamos assim que houver movimentação neste processo.

Usamos seus dados apenas para este aviso.

Última movimentação publicada pelo INPI: 04/01/2022. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO

RJ, BR

U. G. (pessoa física)

MG, BR

UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL - UFRGS

RS, BR

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

A. V. (pessoa física)

BR

A. D. (pessoa física)

BR

B. A. (pessoa física)

BR

C. A. (pessoa física)

BR

J. S. (pessoa física)

BR

J. S. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

M. V. (pessoa física)

BR

R. C. (pessoa física)

BR

R. A. (pessoa física)

BR

T. V. (pessoa física)

BR

W. R. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

DISPOSITIVO MACIÇO COM EXTREMIDADE UNIDIMENSIONAL PARA MICROSCOPIA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA DE CAMPO PRÓXIMO. A metéria tratada (Figura 1) é descrita por um dispositivo maciço com extremidade unidimensional, para microscopia e espctroscopia óptica de campo próximo. Este dispositivo compreende uma sonda maciça, podendo esta ser aplicada, preferencialmente, em equipamentos e técnicas de microscopia e espectroscopia, ambas por varredura de sonda. O dispositivo proposto (Figura 1) apresenta dimensões adequadas para o acoplamento com o campo elétrico de luz que propaga preferencialmente na direção normal à superfície a ser analisada. A matéria tratada (Figura 1) apresenta robustez durante o processo de análise superficial, podendo analisar com alta resolução estruturas de dimensões nanométricas.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

16.3

Ref. RPI 2633 de 22/06/2021 quanto aos titulares.

04/01/2022

RPI 2661

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 27/12/2012, observadas as condições legais

22/06/2021

RPI 2633

Deferimento

#9.1

25/05/2021

RPI 2629

Exigência preliminar

#6.21

13/10/2020

RPI 2597

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

04/12/2018

RPI 2500

Publicação do pedido de patente

#3.1

26/08/2014

RPI 2277

Transferência deferida

#25.1

15/07/2014

RPI 2271

Pedido de patente depositado

#2.1

26/03/2013

RPI 2203

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo 14120003038 em 27/12/2012 11:00(MG).

05/03/2013

RPI 2200

Relacionados

Da mesma categoria

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.