DISPOSITIVO E PROCESSO PARA ANÁLISE TÉRMICA DE METAIS FUNDIDOS

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Patente de Invenção: DISPOSITIVO E PROCESSO PARA ANÁLISE TÉRMICA DE METAIS FUNDIDOS" . Dispositivo para análise térmica de metais fundidos compreendendo dois pares termelétricos é descrito. Compreendem um molde (1) com uma cavidade esférica (2), um dos pares termelétricos (3) sendo colocado de tal forma que se estenda sobre a porção central da cavidade (2), um conduto cilíndrico (5) que se comunica com a cavidade (2) e uma parte cilíndrica (7) que se comunica com a parte inferior da cavidade (2), o outro par termelétrico (6) sendo colocado na transição entre a cavidade (2) e a parte cilíndrica (7). Um processo para análise térmica de metais fundidos com a ajuda do dispositivo é também descrito. A diferença em temperatura (11) na curva temperatura/tempo para o par termelétrico que está colocado centralmente e do par termelétrico inferior que está colocado perifericamente quando a temperatura dos sólidos determinada por meio do par termelétrico colocado centralmente (3) tiver sido alcançada é usada como uma medida da condutividade térmica.