"SISTEMA DE INTERFEROMETRIA PARA ONDEADO E MÉTODO COM PROFUNDIDADE DE IMAGEM AMPLIADA"

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Patente de Invenção: "SISTEMA DE INTERFEROMETRIA PARA ONDEADO E MÉTODO COM PROFUNDIDADE DE IMAGEM AMPLIADA" . Um sistema e método de interferometria para ondeado são produzidos para obter contorno de superfície de campo completo com uma profundidade ampliada de visão de imagem. O sistema de interferometria para ondeado inclui um sistema de projeção geralmente composto de uma fonte de luz, lente de imagem e um modelo de grade de onda quadrada. A lente de imagem é configurada para filtrar raios de luz de ordem superior passando através do modelo de grade de onda quadrada, de forma a projetar um modelo semelhante à onda senoidal sobre a superfície desejada. O sistema de interferometria para ondeado também inclui um sistema de visualização geralmente composto de uma lente de imagem, uma grade submestre e uma câmera. A grade submeste é preferivelmente uma grade feita sob encomenda que pode ser produzida gravando-se um modelo de grade em relação a uma superfície de referência. A câmera é capaz de visualizar uma imagem em qualquer lugar dentro de uma profundidade ampliada de imagem e analisar as margens ondeadas. Uma determinação do desvio entre uma peça de teste e uma superfície de referência produz um sistema de inspeção de peça.