(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

PROCESSO E DISPOSITIVO DE DETECÇÃO DE DEFEITOS QUE SURGEM NA SUPERFÍCIE DE UM PRODUTO METALÚRGICO

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · FR1995000792

Application data

Number

PI9510592

Type

Invention Patent

Filing

06/16/1995

Publication

04/27/1999

PCT

FR1995000792

Progress at the INPI

  1. Filing06/16/95
  2. Publication04/27/99
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

Talk to a specialist

Latest action published by the INPI: 09/09/2003. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

U. L. (pessoa física)

FR

Inventors

M. P. (pessoa física)

FJ

Technical data

IPC Classification

Abstract

Patente de Invenção "PROCESSO E DISPOSITIVO DE DETECÇÃO DE DEFEITOS QUE SURGEM NA SUPERFÍCIE DE UM PRODUTO METALÚRGICO". Para detectar esses defeitos, ilumina-se a superfície por dois feixes planos (13,14) de luz coerente de comprimento de onda situado nas proximidades dos limites do domínio visível. Os dois feixes, gerados, por exemplo, por diodos laser (11, 12) ficam localizados em um mesmo plano (P) sensivelmente ortogonal à superfície (2) do produto, para criar sobre essa superfície um só traço luminoso (T), e dirigidos obliquamente um em direção ao outro com ângulos de incidência (i) sensivelmente iguais. Mede-se, segundo uma direção (18) ortogonal a essa superfície e a esse comprimento de onda, a iluminação ao longo desse traço, por exemplo por uma câmera (17) de rede linear, uma forte redução localizada da iluminação sendo reveladora de um defeito. Aplicação à detecção de orificios ou riscos sobre produtos metalúrgicos brutos de fundição contínua.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 5ª, 6ª, 7ª, 8ª anuidades.

09/09/2003

RPI 1705

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/27/1999

RPI 1477

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.