Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
03/21/2000
RPI 1524
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Official data from INPI
PROCESSO PARA A MEDIÇÃO DA PROFUNDIDADE DE UMA MICROESTRUTURA
ArquivadaInvention PatentPCT · DE1995000783
Application data
Number
PI9508275Type
Invention Patent
Filing
06/10/1995
Publication
11/04/1997
PCT
DE1995000783 Progress at the INPI
- Filing06/10/95
- Publication11/04/97
- Abandoned
- Allowance
- Grant
- In force
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 06/10/1995 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 03/21/2000. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
Leonhard Kurz GmbH & Co.
DE
Inventors
H. W. (pessoa física)
DE
Technical data
IPC Classification
Priority claims
DE
P 44 24 565.3 · 07/13/1994
Abstract
Patente de INvenção: "PROCESSO PARA A MEDIÇÃO DA PROFUNDIDADE DE UMA MICROESTRUTURA" . É sugerido um processo para medição da profundidade de uma microestrutura durante a transferência da estrutura, por meio de um processo de estampar em uma camada moldável, no qual na microestrutura a ser transferida está prevista uma estrutura da grade de referência está prevista uma estrutura da grade de referência geometricamente simples. Essa estrutura de garde de referência produz uma interferência de um raio de luz de medição. A distribuição de luz resultante produz, então, uma medida para a profundidade da estrutura visada.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
11/04/1997
RPI 1405
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