Carta-patente expirada
#21.1
Patente extinta em 25/10/2015
12/08/2015
RPI 2344
Application data
Number
PI9502751Type
Filing
Publication
The letters patent expired on 12/08/2015: the term of protection has ended. The technology is in the public domain and may be freely used in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 12/08/2015. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
Johnson & Johnson
US
Inventors
J. E. (pessoa física)
US
M. D. (pessoa física)
US
P. S. (pessoa física)
US
R. E. (pessoa física)
US
IPC Classification
Priority claims
US
257.857 · 06/10/1994
Abstract
Patente de Invenção: "SISTEMA E MÉTODO PARA A INSPEçÃO DE LENTES" . Trata-se de um sistema e método para a inspeçÃo de lentes oftálmicas. O sistema compreende um sub-sistema de transporte para mover as lentes para uma posição de inspeção, e um sub-sistema de iluminação para gerar um feixe luminoso e para dirigir o feixe luminoso através das lentes. O sistema compreende ainda um sub-sistema de formação de imagens para gerar um conjunto de sinais que representam as partes selecionadas do feixe luminoso transmitido através das lentes, e um sub-sistema de processamento para processar esses sinais de acordo com um programa predeterminado. O sub-sistema de iluminação inclui uma fonte de luz para gerar um feixe luminoso, e um difusor para formar esse feixe luminoso com uma intensidade geralmente uniforme através da seção transversal do feixe luminoso. O sub-sistema de iluminação inclui ainda um conjunto de lentes para focalizar uma parte do feixe luminoso em um plano de imagem, e para focalizar uma parte do feixe luminoso em um ponto focal na frente do plano de imagem, para formar um padrão de fundo difuso no plano de imagem.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#21.1
Patente extinta em 25/10/2015
12/08/2015
RPI 2344
#16.1
10/25/2005
RPI 1816
#9.1
07/26/2005
RPI 1803
#6.1
03/08/2005
RPI 1783
#6.1
10/13/2004
RPI 1762
#7.1
05/25/2004
RPI 1742
#6.6
O requerente deverá apresentar, de acordo com o art. 34 "I" da LPI, as objeções, buscas de anterioridade e resultados de exame para concessão de pedido correspondente em outros países.
02/13/2002
RPI 1623
#3.1
01/16/1996
RPI 1311
#2.1
07/18/1995
RPI 1285
From the same holder
Same category
Patent monitoring
Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.