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Official data from INPI

SISTEMA PARA ANÁLISE CONTÍNUA DE AMOSTRAS DE MATERIAL E PROCESSO PARA ESTABELECER TAL SISTEMA

ArquivadaInvention PatentPCT · DK1993000165

Application data

Number

PI9306343

Type

Invention Patent

Filing

05/14/1993

Publication

06/30/1998

PCT

DK1993000165

Progress at the INPI

  1. Filing05/14/93
  2. Publication06/30/98
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 09/05/2000. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Jesma-Matador A/S

DK

Inventors

E. J. (pessoa física)

DK

J. H. (pessoa física)

DK

M. B. (pessoa física)

DK

Technical data

Priority claims

DK

0644/92 · 05/14/1992

Abstract

Patente de Invenção: SISTEMA PARA ANÁLISE CONTÍNUA DE AMOSTRAS DE MATERIAL E PROCESSO PARA ESTABELECER TAL SISTEMA. Para a realização automática em linha de análises NIR sucessivas de amostras de material, é conhecida a alimentação de amostras a uma câmara de teste tendo uma janela localizada adjacente à cabeça ótica de uma analisador NIR, esta janela sendo mantida limpa sendo coberta por uma película que é avançada totalmente antes do suprimento de cada amostra nova à câmara. De acordo com a invenção, é usada uma técnica simplificada na qual a janela é constituída pelo vidro dianteiro (68) de cabeça ótica, esta cabeça sendo montada em uma caixa (6) que é móvel além de uma unidade de limpeza simples (86,88). Com esta invenção, é possível adaptar um equipamento de laboratório existente (2,10) para a operação em linha.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

09/05/2000

RPI 1548

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

11/30/1999

RPI 1508

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/30/1998

RPI 1436

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