PROCESSO PARA TESTAR CONJUNTO DE CIRCUITOS ELETRÔNICOS E CIRCUITO INTEGRADO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

A invençào propõe um processo de teste e arranjo associado para conjuntos de circuitos eletrônicos que combina componentes funcionais que são interconectados por meio de canais de aperto de mão. Diversos canais deste tipo são agora, providos com uma junção de entrada e uma chave de saída, como um par de componentes de teste. A junção possui duas portas passivas e uma porta ativa. A chave possui uma porta passiva e duas portas ativas que são selecionadas através de uma porta de controle passiva. Desta maneira, a entrada e a saída de um canal se torna possível. Agora, a entrada é feita em um primeiro canal, a saída em um segundo canal, de modo tal que todos os componentes que se encontram entre a primeira junção do canal e a segunda chave do canal são testados.