PROCESSO DE AGLOMERAÇÃO DE PRECIPITADOS FINOS DE SEGUNDA FASE EM RÉPLICAS DE EXTRAÇÃO PARA UTILIZAÇÃO EM MICROSCOPIA ELETRÔNICA

IPC Classification

Abstract

A invenção tem por objetivo facilitar as análises por difração de elétrons de precipitados finos de segunda fase presentes em determinadas ligas metálicas. O procedimento convencional de preparação de réplicas de extração pode não proporcionar uma densidade mínima de precipitados presentes na matriz do material, comprometendo os resultados da análise via microscopia eletrônica. O processo da invenção, que define o uso de cloreto de amônia tetrametílico na composição do eletrólito e uma posterior insuflação de ar quente sobre a superfície da amostra atacada, garante a formação de cristais de elevada densidade de partículas.