PROCESSO DE ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA PONTUAL DA LUZ DIFRATADA OU ABSORVIDA POR UMA SUBSTÂNCIA TRANSPARENTE E/OU REFLETIVA COLOCADA EM UM CAMPO PRÓXIMA E MICROSCÓPIO ÓPTICO POR VARREDURA EM CAMPO PRÓXIMO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Refere-se a presente invenção a um processo de análise espectroscópica pontual da luz difratada ou absorvida por uma substância transparente e/ou refletiva, colocada em um campo próximo, gerado em transmissão ou em reflexão por uma primeira irradiação eletro-magnética, caracterizado pelo fato de que se faz uma análise espectroscópica pontual do referido campo próximo e/ou de uma segunda irradiação eletro-magnética, orientada simultaneamente com a referida primeira irradiação sobre a referida substância, a referida análise dizendo respeito à fração do citado campo próximo ou da citada segunda irradiação eletro-magnética tendo interagido com a referida substância. A presente invenção destina-se, mais particularmente, ao estudo espectroscópico em alta resolução de substâncias transparentes e/ou refletiva, das quais se obtém simultaneamente o perfil óptico ou o perfil geométrico, por meio de um microscópio óptico por varredura em campo próximo, tal como um microscópio por transmissão em campo evanescente frustrado, ou um microscópio por reflexão em campo próximo guiado.