"MÉTODO PARA DETERMINAR A QUANTIDADE DE UM COMPONENTE ALVO EM UMA AMOSTRA, DISPOSITIVO DE SENSOR, PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR E USO DO DISPOSITIVO DE SENSOR"

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Abstract

MÃTODO PARA DETERMINAR A QUANTIDADE DE UM COMPONENTE ALVO EM UMA AMOSTRA, DISPOSITIVO DE SENSOR, PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR E USO DO DISPOSITIVO DE SENSOR.A invenção refere-se a um método e a um dispositivo (100) para determinar a quantidade de um componente alvo (2) em uma amostra, em que as partículas magnéticas (2) podem se ligar a uma superfície de contato (4) com uma cinética que depende da quantidade da amostra do componente alvo. O método compreende pelo menos duas etapas de limpeza durante as quais as partículas magnéticas (2) são movidas magneticamente para longe da superfície de contato (4) e as medições correspondentes da quantidade restante de partículas magnéticas (2) na superfície de contato (4). A quantidade de componente alvo na amostra é estimada pelo menos a partir de um de tais resultados da medição. A medição também permite determinar concentrações elevadas do componente alvo à s quais a superfície do sensor (4) é saturada em um estado estacionário.