MÉTODOS DE VARREDURA DE UM OBJETO E SISTEMA DE VARREDURA

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Abstract

SISTEMAS DE VARREDURA.A invenção provê um método e um sistema para varredura de um objeto compreendendo a provisão de uma primeira região de detector tendo uma espessura de pelo menos 2 mm e uma segunda região de detector tendo uma espessura de pelo menos 5 mm, onde a segunda região de detector é disposta para receber uma radiação que passou através da primeira região de detector. O método compreende a irradiação de um objeto com uma radiação que tem uma energia de pico de pelo menos 1 MeV, e a detecção da primeira radiação de perfil após ter interagido com ou passado através do objeto, de modo a se prover uma informação relativa ao objeto. A detecção da primeira radiação de perfil compreende a detecção da primeira radiação de perfil na primeira região de detector, o recebimento da primeira radiação de perfil que passou através da primeira região de detector na segunda região de detector, e a detecção da primeira após ter interagido com ou passado através do objeto. A detecção da primeira radiação de perfil compreende a detecção da primeira radiação de perfil na primeira região de detector, o recebimento da primeira radiação de perfil que passou através da primeira região de detector na segunda região de detector, e a detecção da primeira radiação de perfil na segunda região de detector. O método de varredura ainda compreende a irradiação do objeto com uma radiação que tem um segundo perfil de energia, relativamente mais baixo do que o primeiro perfil de energia, e tendo uma energia de pico de pelo menos 0,5 MeV, a detecção da segunda radiação de perfil após ter interagido com ou passado através do objeto, de modo a se prover uma informação relativa ao objeto. A detecção da segunda radiação de perfil compreende a detecção da segunda radiação de perfil compreende a detecção da segunda radiação de perfil na primeira região de detector, o recebimento da segunda radiação de perfil que passou através da primeira região de detector na segunda região de detector, e a detecção da segunda radiação de perfil na segunda região de detector.