Concessão da patente
#16.1
10 (dez) anos contados a partir de 20/08/2019, observadas as condições legais
08/20/2019
RPI 2537
Application data
Number
PI0819124Type
Filing
Publication
PCT
EP2008064683 The patent was granted on 08/20/2019 and is in force until 10/29/2028. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:10/29/2028
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Applicants
S. T. (pessoa física)
FR
Inventors
F. B. (pessoa física)
FR
IPC Classification
Priority claims
FR
0758664 · 10/29/2007
US
61/006441 · 01/14/2008
Abstract
DISPOSITIVO PARA A OBSERVAÃÃO, POR REFLEXÃO, DE DETALHES ESTRUTURAIS MILIMÃTRICOS OU SUBMILIMÃTRICOS DE UM OBJETO.Um dispositivo para observação, por reflexão, dos detalhes estruturais de um objeto (2) que exibe um comportamento que é pelo menos parcialmente especular, posicionado em uma área de exposição, que inclui: pelo menos uma fonte de radiação com uma superfÃcie de emissão (6) que possui pelo menos duas zonas distintas (26, 27) que emitem correntes de radiação, onde pelo menos uma das caracterÃsticas difere de uma zona para a próxima; um sistema de projeção óptica que é posicionado em linha com a fonte de radiação em relação à zona de exposição, no trajeto da radiação; um sistema de exposição óptico (18) projetado para ligar opticamente a abertura de entrada (14) do sistema de projeção Ãptica e a superfÃcie de emissão (6); 15 uma superfÃcie de projeção (1O) que é opticamente ligada com o objeto na zona de exposição, e cuja radiação recebida depende da deflexão sobre o objeto (2).
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#16.1
10 (dez) anos contados a partir de 20/08/2019, observadas as condições legais
08/20/2019
RPI 2537
#9.1
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