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Official data from INPI

MÉTODOS E APARELHO PARA ANALISAR MOSTRAS E COLHER FRAÇÕES DE AMOSTRA

ArquivadaInvention PatentPCT · US2008013359

Application data

Number

PI0811525

Type

Invention Patent

Filing

12/04/2008

Publication

11/18/2014

PCT

US2008013359

Progress at the INPI

  1. Filing12/04/08
  2. Publication11/18/14
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 12/04/2008 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 09/01/2015. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Alltech Associates, INC.

US

Inventors

B. B. (pessoa física)

US

C. P. (pessoa física)

US

D. C. (pessoa física)

US

D. H. (pessoa física)

US

J. J. (pessoa física)

US

J. B. (pessoa física)

US

N. P. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

S. N. (pessoa física)

US

W. M. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

61/005.590 · 12/05/2007

Abstract

MÃTODOS E APARELHO PARA ANALISAR AMOSTRAS E COLHER FRAÃÃES DE AMOSTRA. Métodos e aparelho para analisar uma amostra usando pelo menos um detector são revelados.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

09/01/2015

RPI 2330

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

06/02/2015

RPI 2317

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

11/18/2014

RPI 2289

Alteração de dados cadastrais

#1.1

08/30/2011

RPI 2121

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