Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2260 de 29/04/2014.
08/26/2014
RPI 2277
Application data
Number
PI0518876Type
Filing
Publication
PCT
IB2005054094 The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.
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Applicants
K. V. (pessoa física)
NL
Inventors
C. L. (pessoa física)
DE
D. K. (pessoa física)
DE
M. H. (pessoa física)
DE
M. B. (pessoa física)
DE
M. P. (pessoa física)
DE
R. K. (pessoa física)
DE
R. W. (pessoa física)
DE
IPC Classification
Priority claims
EP
04106477.5 · 12/10/2004
Abstract
APARELHO E MÉTODO PARA TRATAMENTO DE UMA AMOSTRA DE MATERIAL COM LUZ. A invenção se refere a um método e um aparelho para investigação de uma amostra de material através de múltipla amostras de pontos de luz (501) gerados por ondas evanescentes. Uma disposição de pontos de luz de origem (510) é gerada através de um gerador de multi-ponto de luz, e. g. um interferômetro multimodo (106), e mapeada em uma amostra de pontos de luz (501) em um camada de amostra (302) por (micro) lentes (202, 203) ou pelo efeito Talbot. A luz de entrada (504) dos pontos de luz de origem (510) é conformada de modo que toda ela seja totalmente internamente refletida na interface entre uma placa portadora transparente (301) e a camada de amostra (302). Assim sendo, as amostras de pontos de luz (501) somente consistem de ondas evanescentes e são restritas a um volume limitado. Em uma modalidade preferida, fluorescência estimulada nas amostras de pontos de luz (501) é detectada com resolução regional por uma disposição CCD (401).
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2260 de 29/04/2014.
08/26/2014
RPI 2277
#8.6
Referente à 8ª anuidade.
04/29/2014
RPI 2260
#1.3
12/16/2008
RPI 1980
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