Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
04/07/2009
RPI 1996
Application data
Number
PI0405165Type
Filing
Publication
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 11/24/2004 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 04/07/2009. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
Alcon Refractivehorizons, Inc.
US
Inventors
E. C. (pessoa física)
US
IPC Classification
Priority claims
US
10/720,422 · 11/24/2003
Abstract
"MÉTODO E APARELHO PARA CALIBRAÇÃO DE ABERROSCÓPIO E COMPENSAÇÃO DISCRETA". A presente invenção refere-se a um dispositivo de calibração para um aberroscópio que inclui um elemento ótico que é inserível em um percurso ótico de um analisador de frente de onda. O elemento ótico é adaptado para induzir uma aberração predeterminada em uma frente de onda. O elemento ótico, que pode ser transmissivo ou refletivo, pode compreender uma lente otimizada para uma potência e aberração específicas; um holograma gerado por computador; ou um modulador de luz espacial. Uma frente de onda substancialmente não aberrada é passada ao longo de um percurso ótico levando a um analisador de frente de onda. Uma aberração predeterminada é induzida na frente de onda não aberrada usando um elemento ótico posicionado no percurso ótico. A frente de onda aberrada é então analisada usando-se o analisador de frente de onda, que é calibrado usando dados gerados pelo analisador de frente de onda da frente de onda aberrada.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#11.1.1
04/07/2009
RPI 1996
#11.1
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08/02/2005
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