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Official data from INPI

MÉTODO E APARELHO PARA CALIBRAÇÃO DE ABERROSCÓPIO E COMPENSAÇÃO DISCRETA

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

PI0405165

Type

Invention Patent

Filing

11/24/2004

Publication

08/02/2005

Progress at the INPI

  1. Filing11/24/04
  2. Publication08/02/05
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 11/24/2004 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 04/07/2009. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Alcon Refractivehorizons, Inc.

US

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Inventors

E. C. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

10/720,422 · 11/24/2003

Abstract

"MÉTODO E APARELHO PARA CALIBRAÇÃO DE ABERROSCÓPIO E COMPENSAÇÃO DISCRETA". A presente invenção refere-se a um dispositivo de calibração para um aberroscópio que inclui um elemento ótico que é inserível em um percurso ótico de um analisador de frente de onda. O elemento ótico é adaptado para induzir uma aberração predeterminada em uma frente de onda. O elemento ótico, que pode ser transmissivo ou refletivo, pode compreender uma lente otimizada para uma potência e aberração específicas; um holograma gerado por computador; ou um modulador de luz espacial. Uma frente de onda substancialmente não aberrada é passada ao longo de um percurso ótico levando a um analisador de frente de onda. Uma aberração predeterminada é induzida na frente de onda não aberrada usando um elemento ótico posicionado no percurso ótico. A frente de onda aberrada é então analisada usando-se o analisador de frente de onda, que é calibrado usando dados gerados pelo analisador de frente de onda da frente de onda aberrada.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

04/07/2009

RPI 1996

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

09/02/2008

RPI 1965

Publicação do pedido de patente

#3.1

08/02/2005

RPI 1804

Pedido de patente depositado

#2.1

01/04/2005

RPI 1774

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