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Official data from INPI

INSTRUMENTO DE PRECISÃO PARA MEDIÇÃO DE DIÂMETRO DE GRANDE SUPERFÍCIE CILÍNDRICA MONTADA E MÉTODO DE MEDIÇÃO

Arquivada/ExtintaInvention Patent

Application data

Number

PI0403671

Type

Invention Patent

Filing

09/02/2004

Publication

05/24/2005

Progress at the INPI

  1. Filing09/02/04
  2. Publication05/24/05
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 10/30/2012. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

F. C. (pessoa física)

SP, BR

Inventors

F. C. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

"INSTRUMENTO DE PRECISÃO PARA MEDIÇÃO DE DIÂMETRO DE GRANDE SUPERFÍCIE CILÍNDRICA MONTADA E MÉTODO DE MEDIÇÃO". Consiste de um instrumento (1) compacto dotado de corpo (2) rígido com manopla (3) superior e relógio comparador (4) acoplado bem como apoios (5) laterais para sua perfeita sobreposição sobre a peça (P) a ser medida, sendo fornecido juntamente com o instrumento (1) um jogo de gabaritos (G) de arcos (5) superiores perfeitos a determinados raios, sobre os quais o instrumento (1) é devidamente apoiado e zerado através da ponteira (6) do relógio comparador (4), para só então ser sobreposto a peça (P) a ser trabalhada, que de acordo com o deslocamento do relógio comparador (4), após submetido a tabela de conversão (T) também fornecida, o valor absoluto da variação do diâmetro da peça (1).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2159 de 22/05/2012.

10/30/2012

RPI 2182

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente às 3ª, 4ª, 5ª, 6ª e 7ª anuidades.

05/22/2012

RPI 2159

Publicação antecipada

#3.2

05/24/2005

RPI 1794

Pedido de patente depositado

#2.1

10/26/2004

RPI 1764

Patent monitoring

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