SISTEMA E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE UMA AMOSTRA POR ESPECTROS DE BAIXA FREQÜÊNCIA

IPC Classification

Priority claims

Abstract

"SISTEMA E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE UMA AMOSTRA POR ESPECTROS DE BAIXA FREQÜÊNCIA". A presente invenção refere-se a um método e um aparelho que são incluídos para a interrogação de uma amostra (200), que exibe rotação molecular. A amostra é colocada em um recipiente (50) que tem blindagem magnética e eletromagnética, e um ruído gaussiano é injetado na amostra. Um ruído de domínio de tempo eletromagnético composto por uma radiação de fonte de amostra sobreposta no ruído injetado é detectado. Este sinal passa por uma correlação cruzada com um segundo sinal de domínio de tempo que é produzido pela mesma amostra para um sinal de correlação cruzada com componentes de domínio de freqüência. O sinal é plotado por uma transformada rápida de Fourier "FFT", para a produção de um espectro de domínio de freqüência em uma faixa de freqüência de CC a 50 kHz. A partir deste espectro, uma ou mais componentes de sinal de baixa freqüência que são características da amostra sendo interrogada são identificadas.