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Official data from INPI

APARELHO MONITORADOR PARA MEDIDA DIRETA E MULTI-ANGULAR DO ÍNDICE DE REFRAÇÃO, MÉTODO E USO DO MESMO

ConcedidaInvention Patent

Application data

Number

PI0305389

Type

Invention Patent

Filing

10/24/2003

Publication

06/28/2005

Progress at the INPI

  1. Filing10/24/03
  2. Publication06/28/05
  3. Examination
  4. Allowance07/18/17
  5. Grant09/12/17
  6. In force10/24/23

The patent was granted on 09/12/2017 and is in force until 10/24/2023. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:10/24/2023

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Latest action published by the INPI: 09/12/2017. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

U. S. (pessoa física)

RS, BR

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Inventors

A. M. (pessoa física)

BR

F. H. (pessoa física)

BR

H. G. (pessoa física)

BR

J. L. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

"APARELHO MONITORADOR PARA MEDIDA DIRETA E MULTI-ANGULAR DO ÍNDICE DE REFRAÇÃO, MÉTODO E USO DO MESMO". É descrito um aparelho monitorador para medida direta e multi-angular do indice de refração durante a evolução temporal e/ou espacial no processo de fabricação de uma amostra, o aparelho compreendendo um módulo constituído de uma base (1) com parte articulada sobre a qual são montados pelo menos uma fonte luminosa (7), que emite luz que é polarizada ao passar por pelo menos um polarizador de luz (8), a luz sendo expandida e colimada ao passar por lentes (3) e (4) convergentes, por uma fenda (9) e por uma lente (5) convergente, o cone de luz apresentando variação angular adequada ao intervalo varrido, dito cone sendo então focalizado sobre a amostra (11) adaptada a um suporte (10) dotado de sistema de determinação angular, o cone de luz sendo coletado e colimado por uma lente (6) convergente na direção de um detetor (12), sendo que para cada ângulo de incidência da luz, o cone de luz é coletado e colimado por uma lente (6) convergente na direção de um detetor (12), sendo que para cada ângulo de incidência da luz, o detetor (12) detecta a refletância, os valores de refletância nos diversos ângulos sendo comparados como padrão de referência de refletância, pelo que é possível detectar a evolução temporal da refletância da amostra (11). É igualmente descrito o método de determinação do índice de refração de uma amostra resultante d e um processo utilizando o aparelho da invenção, bem como os usos do dito aparelho em processos industriais.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

09/12/2017

RPI 2436

Deferimento

#9.1

07/18/2017

RPI 2428

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

04/11/2017

RPI 2414

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

12/13/2016

RPI 2397

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

07/19/2016

RPI 2376

15.7

Não conhecida a petição nº 016100002439/RS de 10/05/2010 em virtude do disposto no Art. 218 inciso I da LPI.

10/11/2011

RPI 2127

15.7

Não conhecida a petição nº 016060015074/RS de 01/11/2006 em virtude do disposto no Art. 218 inciso I da LPI e a petição nº 016090002824/RS de 11/05/2009 em virtude do disposto no Art. 219 inciso II da LPI.

04/06/2010

RPI 2048

6.7

Para que seja aceita a petição nº 016060015074/RS apresente petição de desarquivamento do pedido e documentação original ou autenticada que comprove que o signatário da petição possui poderes para representar a depositante, bem como a respectiva retribuição relativa ao cumprimento de exigência.

04/07/2009

RPI 1996

Publicação do pedido de patente

#3.1

06/28/2005

RPI 1799

Pedido de patente depositado

#2.1

04/13/2004

RPI 1736

Patent monitoring

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