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MÉTODO PARA A MENSURAÇÃO E ADAPTAÇÃO DA ALTURA DE SUPERFÍCIE DE UM LEITO DE MATERIAL CONDUZIDO SOBRE UMA CORREIA TRANSPORTADORA PARA TRATAMENTO TÉRMICO

Em AnáliseInvention PatentPCT · FI2001000743

Application data

Number

PI0113415

Type

Invention Patent

Filing

08/24/2001

Publication

07/29/2003

PCT

FI2001000743

Progress at the INPI

  1. Filing08/24/01
  2. Publication07/29/03
  3. Examination
  4. Allowance08/07/18
  5. Grant10/02/18
  6. In force08/24/21

The patent was granted on 10/02/2018 and is in force until 08/24/2021. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:08/24/2021

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Applicants and inventors

Applicants

METSO METALS OY

FI

METSO MINERALS OY

FI

METSO OUTOTEC FINLAND OY

FI

METSO OUTOTEC METALS OY

FI

O. O. (pessoa física)

FI

OUTOTEC (FINLAND) OY

FI

O. O. (pessoa física)

FI

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Inventors

N. P. (pessoa física)

FI

P. J. (pessoa física)

FI

R. R. (pessoa física)

FI

T. O. (pessoa física)

FI

V. E. (pessoa física)

FI

Technical data

IPC Classification

Priority claims

FI

20001881 · 08/25/2000

Abstract

"MÉTODO PARA A MENSURAÇÃO DA ALTURA DE SUPERFÍCIE DE UM LEITO DE MATERIAL CONDUZIDO SOBRE UMA CORREIA TRANSPORTADORA PARA TRATAMENTO TÉRMICO". A presente invenção se refere a um método para a mensuração da altura de superfície de um leito de material transportado sobre uma correia transportadora para tratamento térmico operado continuamente, isto é, para sinterização operada continuamente, quando o referido leito de material é formado de partículas simples esféricas e frágeis. Em concordância com a presente invenção, o leito de material (3) formado sobre a correia transportadora (4) é iluminado, essencialmente na direção transversal da correia transportadora (4), por pelo menos uma fonte de luz (5), de maneira que o feixe de luz (6) forma uma listra de luz essencialmente linear (7) sobre a superfície do leito de material (3), e de maneira que para registrar a referida listra de luz (7), é utilizada pelo menos uma câmara (8) e pelo menos uma disposição de processamento de imagem (9) conectada para a câmara (8), e de maneira que na disposição de processamento de imagem (9), a imagem de altura de superfície obtida é comparada com uma pré-determinada, desejada imagem de altura de superfície de maneira a detectar desvios na altura de superfície, e de maneira que a referida disposição de processamento de imagem (9) está conectada para uma unidade de automação (10) de maneira a corrigir os desvios na altura de superfície.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Alteração de nome deferida

#25.4

01/07/2025

RPI 2818

Transferência deferida

#25.1

12/17/2024

RPI 2815

Alteração de nome deferida

#25.4

03/28/2023

RPI 2725

Transferência deferida

#25.1

03/14/2023

RPI 2723

Transferência deferida

#25.1

02/28/2023

RPI 2721

Concessão da patente

#16.1

10/02/2018

RPI 2491

100

Recorrente: O depositante. @ Despacho: Recurso conhecido e provido. Reformada a decisão recorrida e deferido o pedido. Desta data corre o prazo de 60 (sessenta) dias para o pagamento da retribuição para expedição da Carta-Patente. [100]

08/07/2018

RPI 2483

121

Recorrente: O depositante.@Despacho: Cumpra as exigências do parecer técnico no prazo de 60(sessenta) dias desta publicação. [121]

05/08/2018

RPI 2470

121

Recorrente: O depositante.@ Despacho: Cumpra as exigências do parecer no prazo de 60 (sessenta) dias. [121]

02/06/2018

RPI 2457

Petição de recurso

#12.2

10/20/2015

RPI 2337

Indeferimento

#9.2

Indefiro o pedido de acordo com os artigos 8º e 13º da LPI

10/21/2014

RPI 2285

Transferência deferida

#25.1

04/08/2014

RPI 2257

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

07/09/2013

RPI 2218

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

07/29/2003

RPI 1699

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