VERIFICAÇÃO DE ADORNO DE CÉLULA DE REFERÊNCIA AUTOMATIZADA

IPC Classification

Priority claims

Abstract

"VERIFICAÇÃO DE ADORNO DE CÉLULA DE REFERÊNCIA AUTOMATIZADA". Um circuito e método de verificação de adorno de referência é fornecido para efetuar uma operação de verificação de programa em um transistor de célula de referência em uma malha de células de memória EEPROM Flash. Um ramal de corrente de referência (14) é utilizado para gerar uma corrente de referência que corresponde a uma voltagem de "overdrive" predeterminada da célula de referência a ser programada. Um ramal de corrente de dreno (16) é acoplado ao transistor de célula de referência a ser programada e gera uma corrente de dreno a uma voltagem de portal fixa aplicada em seu portal de controle e a uma voltagem de dreno predeterminada aplicada a seu dreno quando a corrente de dreno está no nível desejado. Um comparador (18) é utilizado para comparar uma voltagem sentida que corresponde à corrente de dreno e uma voltagem de referência que corresponde à corrente de referência. O comparador gera um sinal de saída que está em um nível lógico baixo quando a voltagem sentida é inferior à voltagem de referência e que está em um nível lógico alto quando a voltagem sentida é maior do que a voltagem de referência. Um pulso de programa é aplicado ao transistor de referência cada vez que o comparador gera o nível lógico baixo e termina o pulso de programa quando o comparador gera o nível lógico alto.