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MÉTODO PARA FABRICAR UM CONTATO, E PARA FABRICAR UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR, DISPOSITIVO SEMICONDUTOR, E, CONTATO PARA UM SEMICONDUTOR

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · US2000032257

Application data

Number

PI0015803

Type

Invention Patent

Filing

11/22/2000

Publication

08/13/2002

PCT

US2000032257

Progress at the INPI

  1. Filing11/22/00
  2. Publication08/13/02
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 04/24/2012. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

E. C. (pessoa física)

JP

Ebara Solar, INC.

US

Suniva, Inc.

US

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Inventors

D. M. (pessoa física)

US

H. D. (pessoa física)

US

J. J. (pessoa física)

US

R. G. (pessoa física)

US

Technical data

Priority claims

US

09/538034 · 03/29/2000

US

60/167358 · 11/23/1999

Abstract

"MÉTODO PARA FABRICAR UM CONTATO, E PARA FABRICAR UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR, DISPOSITIVO SEMICONDUTOR, E, CONTATO PARA UM SEMICONDUTOR" A presente invenção provê um sistema e método para criar contatos auto-dopantes para dispositivos de silício nos quais o metal de contato é coberto com uma camada de dopante e sujeito a alta temperatura, por esse meio ligando a prata com o silício e dopando simultaneamente o substrato de silício e formando um contato ôhmico de baixa resistência para ele. Um contato negativo auto-dopante pode ser formado de prata não ligada que pode ser aplicada ao substrato de silício tanto borrifando, imprimindo por tela uma pasta ou por evaporação. A prata é coberta com uma camada de dopante. Uma vez aplicada, a prata, substrato e dopante são aquecidos a uma temperatura acima da temperatura eutética de Ag-Si (mas abaixo do ponto de derretimento de silício). A prata se liquefaz mais do que uma proporção eutética do substrato de silício. A temperatura é então diminuída para a temperatura eutética. Quando a temperatura é diminuída, o silício fundido se reforma por epitaxia de fase líquida enquanto assim fazendo, átomos de dopante são incorporados no arranjo atômico de silício reformado. Uma vez que a temperatura cai abaixo da temperatura eutética de prata-silício, o silício que já não foi incorporado no substrato por re-crescimento epitaxial, forma uma liga de fase sólida com a prata. Esta liga de prata e silício é o material de contato final, e é composto de proporções eutéticas de silício e prata. Sob proporções eutéticas, há significativamente mais prata do que silício no material de contato final, por esse meio assegurando boa condutividade elétrica do material de contato final.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2129 de 25/10/2011.

04/24/2012

RPI 2155

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 11ª anuidade(s).

10/25/2011

RPI 2129

Transferência deferida

#25.1

Transferido de: Ebara Corporation

08/23/2011

RPI 2120

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

02/15/2011

RPI 2093

Transferência deferida

#25.1

Transferido de: Ebara Solar, Inc.

09/30/2008

RPI 1969

Retificação da notificação da fase nacional - PCT

#1.3.1

Referente a RPI 1649 de 13/08/2002 quanto ao ítem (86).

12/10/2002

RPI 1666

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/13/2002

RPI 1649

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