PLACA DE TESTE DE MÚLTIPLOS FUROS VAZADOS PARA SEPARAÇÃO DE ALTO DESEMPENHO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

Patente de Invenção: "PLACA DE TESTE DE MÚLTIPLOS FUROS VAZADOS PARA SEPARAÇÃO DE ALTO DESEMPENHO". Um método para conter amostras para análise e um seu aparelho inclui uma placa de teste com um par de superfícies opostas e uma pluralidade de furos. Cada um dos furos se estende de uma das superfícies opostas para a outra das superfícies opostas. Os furos estão dispostos em grupos, aonde cada grupo tem pelo menos duas filas e duas colunas de furos. Os grupos estão dispostos em conjunto aonde cada conjunto tem pelo menos duas filas e duas colunas de grupo. Para analisar as amostras pelo menos uma das superfícies opostas da placa de teste é imersa em uma solução a ser analisada. Uma porção da solução entra nas aberturas para cada um dos furos na superfície oposta imersa. Uma vez que os furos estão cheios com a solução, a placa de teste é removida e é mantida acima de uma superfície de suporte. A tensão de superfície retém a solução dentro de cada um dos furos. A solução dentro de um ou mais dos furos é então analisada e a solução dentro de um destes furos é identificada para um estudo adicional. A localização da solução identificada é marcada com base na sua localização dentro de um conjunto e grupo particular de furos.