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Official data from INPI

PROCESSO PARA FORMAÇÃO GALVÂNICA DE ESTRUTURAS CONDUTORAS DE COBRE DE ALTA PUREZA NA PRODUÇÃO DE CIRCUITOS INTEGRADOS

Arquivada/ExtintaInvention PatentPCT · DE2000000133

Application data

Number

PI0007639

Type

Invention Patent

Filing

01/11/2000

Publication

11/06/2001

PCT

DE2000000133

Progress at the INPI

  1. Filing01/11/00
  2. Publication11/06/01
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned for failure to pay the annuities (art. 86 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 12/13/2011. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Atotech Deutschland GMBH

DE

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Inventors

A. T. (pessoa física)

DE

H. M. (pessoa física)

DE

Technical data

IPC Classification

Priority claims

DE

199 03 178.9 · 01/21/1999

DE

199 15 146.6 · 03/26/1999

Abstract

Patente de Invenção: "PROCESSO PARA FORMAÇÃO GALVÂNICA DE ESTRUTURAS CONDUTORAS DE COBRE DE ALTA PUREZA NA PRODUÇÃO DE CIRCUITOS INTEGRADOS". A invenção refere-se a um processo para a formação galvânica de estruturas condutoras de cobre de alta pureza sobre superfícies de substratos semicondutores (wafers) 1, dotadas de cavidades 2, na produção de circuitos integrados. O processo compreende os seguintes passos de processo: a. revestimento das superfícies dos substratos semicondutores 1, dotadas de cavidades 2, com uma camada metálica básica de superfície total, para obter uma condutibilidade suficiente para a precipitação galvânica; b. precipitação em superfície total de camadas de cobre 3 com espessura de camada uniforme sobre a camada metálica básica com um processo de precipitação metálica, por contato dos substratos semicondutores com um banho de precipitação de cobre, sendo que o banho de precipitação de cobre contém pelo menos uma fonte de íons de cobre, pelo menos um composto de aditivo, para controle das propriedades físico-mecânicas das camadas de cobre, bem como compostos de Fe(II) e/ou Fe(III) e sendo que entre os substratos semicondutores e os contra-eletrodos de dimensões estáveis, insolúveis no banho, e postos em contato com o mesmo, é aplicada uma tensão elétrica, de modo que entre os substratos semicondutores 1 e os contra-eletrodos corre uma corrente elétrica; c) estruturação da camada de cobre 3.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 1925 de 27/11/2007.

12/13/2011

RPI 2136

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 3ª, 4ª, 5ª, 6ª, 7ª e 8ª anuidades.

11/27/2007

RPI 1925

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

11/06/2001

RPI 1609

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