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Official data from INPI

TESOURAS E SIMILARES COM GRADUAÇÃO MILIMÉTRICA.

IndeferidaUtility Model

Application data

Number

MU7800927

Type

Utility Model

Filing

05/18/1998

Publication

03/28/2000

Progress at the INPI

Under appeal
  1. Filing05/18/98
  2. Publication03/28/00
  3. Examination
  4. Refused01/04/05
  5. Grant
  6. In force

The application was refused by the INPI on 01/04/2005. The invention was never patented.

Talk to a specialist

Latest action published by the INPI: 01/04/2005. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

L. S. (pessoa física)

SP, BR

Inventors

L. S. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

B>"TESOURAS E SIMILARES COM GRADUAÇÃO MILIMÉTRICA" . A graduação milimétrica é efetuada em tesouras e similares de todos os modelos, marcas e tamanho, para todos os instrumentos cortantes. Tal graduação deve ser legível , sendo esta, o complemento dos instrumentos. Em tesouras, e graduação milimétrica inicia-se desde a ponta, ao cruzamento de tais instrumentos, distanciando um (01) milímetro acima do fio de corte para não perder a graduação milimétrica na afiação, figuras (1), (2) e (3) . O fabricante atenderá ao público adaptando os instrumentos nas áreas profissionais de: comércio, doméstico e para cabeleireiros que usam as pontas das tesouras para fazer cortes lapidados. É a precisão existente nos trabalhos escolares, confecções de roupas e cortes de lâminas, em utilidades diversas que utilizem instrumentos milimetradosm inclusive bisturis cirúrgicos e aparatos em geral.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Indeferimento

#9.2

Indeferido o presente pedido com base no Art. 11 da LPI 9.279 de 14/05/1996

01/04/2005

RPI 1774

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

05/25/2004

RPI 1742

Alteração de sede deferida

#25.7

Alterada a sede conforme solicitado na petição 037242/SP de 24/11/00.

02/20/2001

RPI 1572

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/28/2000

RPI 1525

Patent monitoring

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