Invention Patent SUBSTRATO PARA ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA INCLUINDO ESTRUTURAS POLICRISTALINAS E SEU MÉTODO DE FABRICAÇÃO de KOREA INSTITUTE OF MATERIALS SCIENCE — IPC B82Y 15/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
SUBSTRATO PARA ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA INCLUINDO ESTRUTURAS POLICRISTALINAS E SEU MÉTODO DE FABRICAÇÃO. A presente invenção fornece um substrato para análise espectroscópica compreendendo uma estrutura policristalina e um método de preparação do mesmo. Mais especificamente, a presente invenção fornece um substrato para análise espectroscópica com base em materiais universais compreendendo uma estrutura policristalina com intensidade de sinal e uniformidade de sinal aprimoradas ao compreender uma estrutura policristalina, e um método de preparação de um substrato para análise espectroscópica compreendendo uma estrutura policristalina cuja forma é controlada por um processo simples na superfície de vários materiais.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
