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Official data from INPI

CÂMARA DE AMOSTRA MELHORADA PARA METAL FUNDIDO

Em ExigênciaInvention PatentPCT · EP2023050261

Application data

Number

112024014236

Type

Invention Patent

Filing

01/09/2023

Publication

10/08/2024

PCT

EP2023050261

Applicants and inventors

Applicants

HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V.

BE

Inventors

F. M. (pessoa física)

BE

G. N. (pessoa física)

BE

Technical data

Priority claims

EP

22152596.7 · 01/21/2022

Abstract

CÂMARA DE AMOSTRA MELHORADA PARA METAL FUNDIDO.A presente invenção se refere a uma câmara de amostra para colher amostras de um banho de metal fundido, particularmente de um banho de aço fundido ou um banho de ferro fundido. A câmara de amostra compreende uma placa de cobertura plana e um gabinete, sendo que a placa de cobertura plana e o gabinete são configurados para serem montados ao longo de um plano de análise AP para formar uma cavidade de amostra. O gabinete compreende uma face de imersão e uma face de extremidade oposta, uma face de topo e uma face de fundo. O gabinete compreende uma primeira abertura na face de imersão e uma segunda abertura em outra face. A face de topo tem pelo menos uma reentrância, compreendendo um segmento de distribuição, um segmento de ventilação e um segmento de análise e sendo que o segmento de análise é delimitado pelo plano de análise AP. O segmento de distribuição e o segmento de ventilação estão dispostos abaixo do segmento de análise em uma direção da face de topo para uma face oposta do gabinete e as áreas máxima e mínima da seção transversal do segmento de análise perpendicular a um eixo longitudinal central X do gabinete não se desviam uma da outra em mais de 20%. A invenção se refere adicionalmente a um amostrador que compreende a câmara de amostra de acordo com a invenção e um tubo portador adaptado para acomodar pelo menos partes da câmara de amostra.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

03/31/2026

RPI 2882

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

10/08/2024

RPI 2805

Alteração de dados cadastrais

#1.1

07/23/2024

RPI 2794

Patent monitoring

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