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Official data from INPI

MÉTODO E DISPOSITIVO DE INTERPOLAÇÃO DE AMOSTRA DE REFERÊNCIA DE INTRAPREDIÇÃO BIDIRECIONAL

Em ExigênciaInvention PatentPCT · EP2018069849

Application data

Number

112021000569

Type

Invention Patent

Filing

07/20/2018

Publication

04/06/2021

PCT

EP2018069849

Progress at the INPI

Technical opinion to answer
  1. Filing07/20/18
  2. Publication04/06/21
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

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Applicants and inventors

Applicants

HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD.

CN

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Inventors

A. F. (pessoa física)

DE

J. C. (pessoa física)

DE

V. R. (pessoa física)

DE

Technical data

IPC Classification

Abstract

A presente invenção refere-se a aperfeiçoamento de métodos de interpredição bidirecional conhecidos, dispositivos (de codificação, decodificação, e associados). De acordo com a presente invenção, ao invés de interpolação de amostras de referência secundárias, para calcular amostras em intrapredição, um cálculo com base em valores de amostras de referência "primários" somente é utilizado. O resultado é então refinado adicionando um incremento o qual depende pelo menos da posição do pixel (amostra) dentro do bloco corrente e pode ainda depender da forma e tamanho do bloco e a direção de predição mas não depende de quaisquer valores de amostras de referência "secundários" adicionais. O processamento de acordo com a presente invenção é assim menos computacionalmente complexo porque este utiliza um único procedimento de interpolação ao invés de fazê-lo duas vezes: para amostras de referência primárias e secundárias.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

07/22/2025

RPI 2846

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/06/2021

RPI 2622

Alteração de dados cadastrais

#1.1

01/26/2021

RPI 2612

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