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Official data from INPI

ANALISADOR DE FLUORESCÊNCIA DE RAIO X COM UMA PLURALIDADE DE CANAIS DE MEDIÇÃO, E MÉTODO PARA REALIZAR ANÁLISE DE FLUORESCÊNCIA DE RAIO X

Em AnáliseInvention PatentPCT · FI2018050283

Application data

Number

112020021453

Type

Invention Patent

Filing

04/20/2018

Publication

01/19/2021

PCT

FI2018050283

Progress at the INPI

  1. Filing04/20/18
  2. Publication01/19/21
  3. Examination
  4. Allowance02/15/24
  5. Grant05/07/24
  6. In force04/20/38

The patent was granted on 05/07/2024 and is in force until 04/20/2038. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:04/20/2038

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Latest action published by the INPI: 09/16/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

METSO FINLAND OY

FI

METSO MINERALS OY

FI

METSO OUTOTEC FINLAND OY

FI

OUTOTEC (FINLAND) OY

FI

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Inventors

A. P. (pessoa física)

FI

H. S. (pessoa física)

FI

T. K. (pessoa física)

FI

Technical data

Abstract

Um analisador de fluorescência de raios X compreende um tubo de raios X (402) para emitir raios X incidentes (206) na direção de um primeiro eixo geométrico óptico (204). Uma unidade de manipulação de pasta (201) é configurada para manter uma distância constante entre uma amostra (202) de pasta e o referido tubo de raios X. Um primeiro difrator de cristal (601, 1501) está localizado em uma primeira direção da referida unidade de manipulação de pasta (201). Compreende um primeiro cristal (603, 1502) e um primeiro detector de radiação (602, 1505) configurado para detectar raios X fluorescentes difratados pelo referido primeiro cristal (603, 1502) em uma primeira resolução de energia. Um segundo difrator de cristal (1511) está localizado em uma segunda direção da referida unidade de manipulação de pasta (201). Compreende um segundo cristal (1512) e um segundo detector de radiação (1515) configurado para detectar raios X fluorescentes difratados pelo referido segundo cristal (1512) em uma segunda resolução de energia. O referido primeiro cristal (603, 1502) é um cristal de grafite pirolítico, o referido segundo cristal (1512) é de um material diferente de grafite pirolítico, e os referidos primeiro e segundo difratores de cristal são configurados para direcionar para suas respectivas radiações fluorescentes características de detectores de radiação de um mesmo elemento.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Alteração de sede deferida

#25.7

09/16/2025

RPI 2854

Alteração de nome deferida

#25.4

09/02/2025

RPI 2852

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/04/2018, observadas as condições legais

05/07/2024

RPI 2783

Deferimento

#9.1

02/15/2024

RPI 2771

15.50

O pedido foi dividido no BR122023023754-4 protocolo 870230100111 em 13/11/2023 15:01.

12/05/2023

RPI 2761

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

07/25/2023

RPI 2742

Alteração de nome deferida

#25.4

07/11/2023

RPI 2740

Transferência deferida

#25.1

06/27/2023

RPI 2738

Parecer de pré-exame

#6.23

02/28/2023

RPI 2721

Adição na publicação

#15.35

12/14/2021

RPI 2658

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/19/2021

RPI 2611

Alteração de dados cadastrais

#1.1

10/27/2020

RPI 2599

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